Preparación de Muestras para Microscopía Electrónica
Laboratorio de Preparación de Muestras para Microscopía Electrónica
El laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco, pulidora, «disc-grinder», cortadora ultrasónica, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador iónico (Fischione 1010).
Email: servicio_me@icmse.csic.es
Contacto
Investigadores a cargo
Microscopía Electrónica
Luisa María Valencia Liñán
Técnico de Apoyo
954 48 95 49
Ext: 446149
luisa.valencia@icmse.csic.es
Microscopía Electrónica
María Inmaculada Rosa Cejudo
Ayudante de Investigación
954 13 92 19
Ext: 446137
inma@icmse.csic.es
Tribología y Protección de Superficies
Teresa Cristina Rojas Ruiz
Científicos Titulares
954 48 96 25
Ext: 446125
tcrojas@icmse.csic.es
Microscopía Electrónica
Olga María Montes Amorín
Técnico Especializado OPIs
954 13 92 19
Ext: 446137
olga@icmse.csic.es
Materiales Nanoestructurados y Microestructura
María Asunción Fernández Camacho
Profesores de Investigación
954 48 95 31
Ext: 446131
asuncion@icmse.csic.es
Materiales Semiconductores para la Sostenibilidad
Miguel Anaya Martín
Profesores Titulares
anaya@us.es
Tarifas
Prestaciones de servicios
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Metalización (Sputtering)45,12 (€/10 muestra)
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Preparación de Láminas Delgadas y Probetas Delgado-Pulidas (Sección Transversal--Planar)114,65 (€/muestra)
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Preparación de Láminas Delgadas y Probetas Delgado-Pulidas (Adelgazamiento Iónico)51,36 (€/muestra)
Apoyos institucionales
Una red de colaboración científica a nivel nacional e internacional
