Microscopía Electrónica de Barrido
Microscopía Electrónica de Barrido
La microscopía electrónica de barrido proporciona información microestructural, morfológica y de composición química en escala microscópica. Se puede aplicar a todo tipo de materiales y problemáticas de estudio en ciencia de materiales: cerámicas, plásticos, metales, minerales, catalizadores, muestras de patrimonio histórico, capas finas, recubrimientos, interfases, nanopartículas, etc. El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión (STEM-in-SEM) en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales.
Instrumental disponible
- Microscopio SEM, modelo Hitachi S4800 SEM-FEG: cañón de emisión de campo de cátodo frío y voltaje de 0.5-30 kV, resolución de 1 nm a 15kV. Dotado de analizador EDX Bruker-X Flash-4010 con una resolución de 133 eV (en la línea MnKα) y detector con portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM).
- Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica”
Contacto
Investigadores a cargo
Materiales de Diseño para la Energía y Medioambiente
Maider Zarrabeitia Ipiña
Tribología y Protección de Superficies
Teresa Cristina Rojas Ruiz
Materiales Nanoestructurados y Microestructura
María Asunción Fernández Camacho
Tarifas
Prestaciones de servicios
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Metalización (Sputtering)45,12 (€/10 muestras)
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Microscopía Electrónica de Barrido de Alta Resolución88,13 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Barrido, Bajo Voltaje88,13 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Barrido. Espectroscopía de Rayos X por Dispersión de Energía88,13 (€/hora)
Apoyos institucionales
Una red de colaboración científica a nivel nacional e internacional




