Microscopía Electrónica de Barrido

Microscopía Electrónica de Barrido

La microscopía electrónica de barrido proporciona información microestructural, morfológica y de composición química en escala microscópica. Se puede aplicar a todo tipo de materiales y problemáticas de estudio en ciencia de materiales: cerámicas, plásticos, metales, minerales, catalizadores, muestras de patrimonio histórico, capas finas, recubrimientos, interfases, nanopartículas, etc. El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión (STEM-in-SEM) en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales.

Instrumental disponible

Contacto

Investigadores a cargo

Maider Zarrabeitia Ipiña
Materiales de Diseño para la Energía y Medioambiente

Maider Zarrabeitia Ipiña

Científicos Titulares
maider.zarrabeitia@icmse.csic.es
Teresa Cristina Rojas Ruiz
Tribología y Protección de Superficies

Teresa Cristina Rojas Ruiz

Científicos Titulares
954 48 96 25
Ext: 446125
tcrojas@icmse.csic.es
María Asunción Fernández Camacho
Materiales Nanoestructurados y Microestructura

María Asunción Fernández Camacho

Profesores de Investigación
954 48 95 31
Ext: 446131
asuncion@icmse.csic.es

Tarifas

Prestaciones de servicios

  • Metalización (Sputtering)
    45,12 (€/10 muestras)
  • Microscopía Electrónica de Barrido de Alta Resolución
    88,13 (€/hora)
  • Microscopía Electrónica de Barrido, Bajo Voltaje
    88,13 (€/hora)
  • Microscopía Electrónica de Barrido. Espectroscopía de Rayos X por Dispersión de Energía
    88,13 (€/hora)

Apoyos institucionales

Una red de colaboración científica a nivel nacional e internacional