Difracción de Rayos X
Difracción de Rayos X
La difracción de rayos-X permite la identificación cualitativa y cuantitativa de sustancias cristalinas y su caracterización microestructural y textural. El servicio dispone en la actualidad de tres difractómetros independientes, configurados específicamente para abordar el análisis de muestras tanto policristalinas como en forma de películas delgadas. Además de los análisis rutinarios, los equipos permiten otros más avanzados que se enumeran a continuación:
Instrumental disponible
- Difractómetro Panalytical X’PERT PRO con cargador automático de muestras para registro de diagramas de difracción en geometría Bragg-Brentano
- Difractómetro PHILIPS X’PERT PRO con cámara de alta temperatura (1200 oC) ANTON PAAR HTK 1200, y accesorios para en bajo ángulo (SAXS) y capilar
- Difractómetro Panalytical Empyrean Alpha-1 con monocromador Johansson con posibilidad de realizar medias con radiación “solo Kα1” en geometría Bragg-Brentano
Contacto
Investigadores a cargo
Tarifas
Prestaciones de servicios
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Caracterización de Películas Delgadas mediante Reflectometría de Rayox X (Textura Empyrean)379,19 (€/hora)
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Caracterización Estructural XRD (Difracción de Rayos X) en Polvo Cualitativo (Cargador)36,76 (€/hora)
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Caracterización Estructural XRD (Difracción de Rayos X) en Polvo Cualitativo (Kalfa1)438,55 (€/hora)
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Caracterización Estructural XRD (Difracción de Rayos X) en Polvo Cualitativo (Microdifracción)437,03 (€/hora)
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Caracterización Estructural XRD (Difracción de Rayos X) en Polvo Cualitativo (Difracción de Rayos X con Cámara de Temperatura)30,09 (€/hora)
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Dispersión de Rayos X a Bajo Ángulo (SAXS)40,03 (€/hora)
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XRD (Difracción de Rayos X) Láminas Delgadas (Empyrean)239,11 (€/hora)
Apoyos institucionales
Una red de colaboración científica a nivel nacional e internacional




