Microscopía Electrónica de Barrido
Microscopía Electrónica de Barrido
La microscopía electrónica de barrido proporciona información microestructural, morfológica y de composición química en escala microscópica. Se puede aplicar a todo tipo de materiales y problemáticas de estudio en ciencia de materiales: cerámicas, plásticos, metales, minerales, catalizadores, muestras de patrimonio histórico, capas finas, recubrimientos, interfases, nanopartículas, etc. El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15 kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión (STEM-in-SEM) en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales.
Email: servicio_ME@icmse.csic.es
Teléfono: 954 48 96 25
Instrumental disponible
- Microscopio SEM-FEG 0.5-30 kV, resolución de 1 nm; EDX con resolución de 133 eV
- Portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM)
Contacto
Investigadores a cargo
Tribología y Protección de Superficies
Teresa Cristina Rojas Ruiz
Microscopía Electrónica de Barrido
María del Carmen Jiménez de Haro
Materiales Nanoestructurados y Microestructura
María Asunción Fernández Camacho
Materiales Semiconductores para la Sostenibilidad
Miguel Anaya Martín
Tarifas
Prestaciones de servicios
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Metalización (Sputtering)45,12 (€/10 muestras)
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Microscopía Electrónica de Barrido de Alta Resolución88,13 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Barrido, Bajo Voltaje88,13 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Barrido. Espectroscopía de Rayos X por Dispersión de Energía88,13 (€/hora)
Apoyos institucionales
Una red de colaboración científica a nivel nacional e internacional




