La espectroscopia de Absorción de Rayos X en modo reflexión, ReflEXAFS, es una técnica novedosa que proporciona la información característica del EXAFS, estructura del entorno local del elemento absorbente, junto con la obtenida por medidas de reflectometría, tales como rugosidad, espesor de capa o densidad. Todo ello focalizado en la zona próxima a la superficie, proporcionando además la posibilidad de controlar el espesor analizado en función del ángulo de incidencia del haz, en el rango de 20 a 200 Ǻ. Asimismo, y a diferencia de otras espectroscopias superficiales como XPS, permite acceder a capas “enterradas”. Por ello es muy útil para el estudio de materiales con propiedades singulares en su superficie, tales como los modificados superficialmente y los obtenidos por deposición de capas finas. Habiendo desarrollando los protocolos de medida en proyectos previos, se propone la aplicación de la técnica a sistemas reales de dos tipos: aceros modificados superficialmente mediante nitruración y materiales formados por capas finas mixtas con propiedades ópticas y magnéticas singulares. Aparte del interés intrínseco de la técnica y de los sistemas objeto de estudio, este proyecto tiene relevancia en el marco del desarrollo de la espectroscopia XAS en relación con la línea española del ESRF, SPLINE, y de la nueva fuente española de radiación sincrotrón ALBA.