La difracción de Rayos X (XRD o DRX) es una de las técnicas fundamentales en Ciencia de Materiales ya que permite estudiar la estructura interna de los sólidos a escala atómica, así como la identificación cualitativa y cuantitativa de sustancias cristalinas y su caracterización microestructural y textural.

Mediante esta técnica es posible identificar fases cristalinas, determinar parámetros de red y estructura, medir los tamaños de los cristalitos y sus defectos, cuantificar las fases cristalinas (Rietveld), o analizar textura y orientación preferente. Asimismo, esta técnica permite caracterizar películas delgadas o realizar estudios in situ en condiciones reales de trabajo.